景深增強(qiáng)數(shù)碼顯微鏡VISION Engineering

全視圖 – 聚焦 – 快速

DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡，結(jié)合蔡司Visioner1和MALS™技術(shù)，提供比傳統(tǒng)顯微鏡系統(tǒng)更大的景深(DoF)，在單一視圖中提供實(shí)時(shí)清晰的影像。

無(wú)論是在質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)研發(fā)還是在生產(chǎn)線(xiàn)上，越快速 地識(shí)別和報(bào)告問(wèn)題或理解樣本故障，就能越及時(shí)地交付高質(zhì)量的產(chǎn)品。  DeepFocus 1的先進(jìn)3D立體可視化技術(shù)令用戶(hù)可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕 獲的數(shù)據(jù)，包括Z軸高度細(xì)節(jié)。這些查看模式可確保令失效分析和質(zhì)量控制更加高效，與傳統(tǒng)觀測(cè)系統(tǒng)相比，可更快速地提供準(zhǔn)確結(jié)果。

全焦點(diǎn) 傳統(tǒng)觀測(cè)系統(tǒng)受景深深淺的限制，特別是在高倍放大時(shí)。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域，則有可能導(dǎo)致特征缺失和觀測(cè)不完整。DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡可以在單一視圖中擴(kuò)展多達(dá)100 倍的樣本景深。高度達(dá)69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示，無(wú)需 重新定位組件，避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。

應(yīng)用 模塊化的結(jié)構(gòu)、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置，適合多種廣泛應(yīng)用，適用于大多數(shù)工業(yè)環(huán)境中多種多樣的目標(biāo)物觀測(cè)任務(wù)。它占地面積小，非常適合車(chē)間質(zhì)量控制。能夠立即記錄 檢查任務(wù)，成為需要嚴(yán)格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇，如航空航天和醫(yī)療設(shè)備制造。

專(zhuān)為提高生產(chǎn)率設(shè)計(jì)

DeepFocus 1不僅簡(jiǎn)化了成像和文檔記錄任務(wù)，而且實(shí)時(shí)擴(kuò)展景深視圖EDoF使用戶(hù)能夠更快地檢查組件，提供更高的工作量。

無(wú)論是在質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)研發(fā)還是在生產(chǎn)線(xiàn)上，越快速地識(shí)別和報(bào)告問(wèn)題或理解樣本故障，就能越及時(shí)地交付高質(zhì)量的產(chǎn)品。  DeepFocus 1的先進(jìn)3D立體可視化技術(shù)令用戶(hù)可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕獲的數(shù)據(jù)，包括Z軸高度細(xì)節(jié)。這些查看模式可確保令失效分析和質(zhì)量控制更加高效，與傳統(tǒng)觀測(cè)系統(tǒng)相比，可更快速地提供準(zhǔn)確結(jié)果。

全焦點(diǎn) 傳統(tǒng)觀測(cè)系統(tǒng)受景深深淺的限制，特別是在高倍放大時(shí)。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域，則有可能導(dǎo)致特征 缺失和觀測(cè)不完整。DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡可以在單一視圖中擴(kuò)展多達(dá)100 倍的樣本景深。高度達(dá)69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示，無(wú)需重新定位組件，避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。

應(yīng)用 模塊化的結(jié)構(gòu)、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置，適合多種廣泛應(yīng)用，適用于大多數(shù)工業(yè)環(huán)境中多種多樣的目標(biāo)物觀測(cè)任務(wù)。它占地面積小，非常適合車(chē)間質(zhì)量控制。能夠立即記錄檢查任務(wù)，成為需要嚴(yán)格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇，如航空 航天和醫(yī)療設(shè)備制造。

專(zhuān)為提高生產(chǎn)率設(shè)計(jì)

DeepFocus 1不僅簡(jiǎn)化了成像和文檔記錄任務(wù)，而且實(shí)時(shí)擴(kuò)展景深視圖EDoF使用戶(hù) 能夠更快地檢查組件，提供更高的工作量。

與所有Vision Engineering產(chǎn)品一樣，DeepFocus 1也是 為提高操作者效率而設(shè)計(jì)。DeepFocus 1即使在操作目標(biāo)物或樣品含有移動(dòng)部件時(shí)也能保持清晰的聚焦圖像。通過(guò)消除觀測(cè)過(guò)程中重新聚焦的需要，或耗時(shí)的Z軸堆疊 圖像處理，顯著提高生產(chǎn)率。

三種查看細(xì)節(jié)的方式 除了擴(kuò)展景深視圖(EDoF)，還可在“高度 圖"模式或“地形圖"模式查看目標(biāo)物。通過(guò)不同的方 式顯示信息，可以突出細(xì)節(jié)特征并更清楚地理解。  

簡(jiǎn)單快速報(bào)告 行業(yè)法規(guī)和質(zhì)量控制過(guò)程意味著詳細(xì)的檢驗(yàn)報(bào)告是必要 和重要的要求?？煽焖俸?jiǎn)單地 從實(shí)時(shí)視圖中獲取2D圖 像。 這些圖像像任何標(biāo)準(zhǔn)寬場(chǎng)顯微鏡圖像一樣可供使用 和分析。 測(cè)量疊加圖可以應(yīng)用于實(shí)時(shí)圖像，并可立即給 出公差差異指示。定制化的工作界面，即使在不同部件和檢查之間切換， 也可獲得快捷的、可重復(fù)的報(bào)告，簡(jiǎn)化流程并減少操作失誤。

測(cè)量 內(nèi)置的測(cè)量功能，包括“出入"公差提示，輕松獲得詳 細(xì)報(bào)告。 在實(shí)時(shí)視圖中測(cè)量，并從捕獲的圖像中進(jìn)行增強(qiáng)測(cè)量，可加快和簡(jiǎn)化細(xì)節(jié)分析任務(wù)。  對(duì)輪廓特征的簡(jiǎn)單檢查中增加了重要的Z軸作為可用信息。

測(cè)量工具 實(shí)時(shí)測(cè)量圓、線(xiàn)、多邊形和矩形詳細(xì)尺寸，面積、距離 和角度。靜態(tài)測(cè)量增加了Z軸角度、距離和半徑，以及注釋、多距離測(cè)量和曲線(xiàn)。

優(yōu)化照明 不同特征的高清晰度成像往往需要特定的照明模式。DeepFocus 1有可調(diào)節(jié)的環(huán)形光和同軸光，為每個(gè)目標(biāo)物提供正確的照明。自動(dòng)眩光控制技術(shù)可為反光的目標(biāo)物提供實(shí)時(shí)無(wú)眩光圖像。內(nèi)置同軸光為反光表面及側(cè)面帶來(lái)理想照明，并可帶來(lái)細(xì)孔底部的清晰無(wú)陰影圖像。

軟件選項(xiàng) 通過(guò)一系列額外的數(shù)碼顯微鏡軟件來(lái)擴(kuò)展更多應(yīng)用范圍、提高效率和擴(kuò)展功能。添加諸多功能如先進(jìn)的圖像分析、可審批可溯源的工作流程、自動(dòng)測(cè)量和評(píng)估等。

技術(shù)參數(shù)

支架選項(xiàng)

臺(tái)式支架 穩(wěn)定性高，占地面積小，結(jié)構(gòu)緊湊。  適用于小型元件的高倍放大。Z軸定位 可調(diào)，便于設(shè)置。  

多維支架 靈活性和適應(yīng)性高。 旋轉(zhuǎn)、傾斜、提 升和重新定位，快速便捷。適合大面 積長(zhǎng)深度及的目標(biāo)物，輕松調(diào)整工作 距離。 可直接安裝到工作臺(tái)上。  

EVOTIS 配置 先進(jìn)的檢測(cè)工作站，適用于大面積PCB 元件和托盤(pán)組件。 獨(dú)立X/Y軸鎖定。

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