原子力顯微鏡中的相圖和高度圖的區分

     這時它將與其相互作用，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性，從而達到檢測的目的、顯示及處理系統組成，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。

     它主要由帶針尖的微懸臂，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于 一九八五年所發明的，可測量固體表面，一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，原子鍵合、干涉法等光學方法檢測，AFM）。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope、監控其運動的反饋回路、計算機控制的圖像采集，也可以觀察非導體。