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導電性原子力顯微鏡(C-AFM) - 分析行業新聞

  • 作者：微儀顯微鏡
  • 發布時間：2023-02-20
  • 點擊：222
導電性原子力顯微鏡(C-AFM)


導電式原子力顯微鏡是外加一組電流放大器于顯微鏡,然后利用導電探針接觸模式掃描樣品,在取得高度訊號的同時,若是樣品表面有電流產生,探針也會取得此電流訊號,因此我們可以利用Conductive AFM的掃描,同時得到掃描 ????????????WYS-07C 區域得高度形貌圖及電流分布圖像, 更可進一步的于特定的點上取得IV 曲線。


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